本专利属于电力电子器件技术领域，是一种IGBT模块的电一热一老化结温计算模型建立方法，其建立方法如下：测取不同老化程度时IGBT模块的电热参数、获取三维关系曲面并建立不同老化程度时电热参数数据表；建立IGBT模块的电模型、IGBT模块的热网络模型，并将IGBT模块的电模型计算所得功率损耗以电流源形式通入IGBT模块的热网络模型，并将热网络模型计算的结温实时反馈至电模型，完成IGBT模块的电一热耦合模型的建立；对IGBT模块进行老化状态评估；进行IGBT模块的结温计算。本专利针对不同的老化进程获取对应的电热参数，并将这些电热参数代入电一热耦合模型中进行结温计算，即根据模块的老化程度实时动态改变电一热耦合模型参数，从而实现考虑模块老化程度的结温预测功能。

主要技术优势和性能指标：

本专利在现有IGBT模块的电一热耦合结温计算模型基础上，通过在线测取IGBT的通态压降，基于全新模块通态压降、结温和集电极电流的三维关系曲面评估模块的老化程度，进而根据事先建立的不同老化程度时电热参数数据表得出老化后模块的电热参数，从而完成考虑IGBT模块老化的结温预测。本专利弥补了现有方法的不足，根据模块的老化程度实时动态改变电一热耦合模型参数，从而实现了考虑模块老化程度的结温预测功能。